1.免缠绕回损测试

2.单多模波长包括： 850/1300/1310/1490/1550/1625nm

3.多模光源可按照IEC/TIA（环形通量）要求定制

4.单一配置实现灵活稳定测试

5.优异的插损稳定性

6.可同时运行两个不同的测试*

OPL-LOG软件

1.这个软件通过USB及高低温箱和探测头**控制测试参数，并实现数据采集和保存。 同时，软件可以生成插损回损的曲线图，支持数据读取设备并以Excel格式存储数据。

2.这一存储能力使得OPL-LOG软件特别适合长期光器件高低温测试要求，而且符合国际标准的要求. 测试时长和间隔可以设定，即任意测试时间长度内在任意时间间隔或固定时间间隔进行测试,

  为提供测试效率，OPL-LOG还可以同时实施不同设置下的两种测试要求.OP-METS系统配合OP-Log软件可以根据您的应用要求定制测试方案。

*   由于OP-METS的物理配置，每个测试要分顺序实施，无法在同一时刻进行两个测试

** 软件所支持的高低温箱及探头型号请咨询我们